BugID: #05530

カテゴリ	重要度	ステータス	解決状況	登録日時	最終更新
クラッシュ/フリーズ	重要 (本体)	解決済み	修正済み	2014-04-18 14:15	2018-06-29 19:05

テスター	Malice	担当者		ソース	sega/model2.cpp
バージョン	0.153	発生バージョン		修正バージョン	0.197
		修正コミット		プルリク
フラグ
セット	daytona
セット詳細	daytona - デイトナUSA (Revision A)

概要	TGPテストでテストモードがクラッシュする。
詳細	mame daytona -w ----------------------------------------------------- Exception at EIP=00EDB173 (rol_rgd(_t11_state, unsigned short)+0x0023): ACCESS VIOLATION While attempting to read memory at 0B591000 ----------------------------------------------------- EAX=004003F8 EBX=0000D977 ECX=00000000 EDX=004003F8 ESI=0000A086 EDI=00000000 EBP=0A590020 ESP=0023B730 ----------------------------------------------------- Stack crawl: 0A590020: 00EDB173 (rol_rgd(_t11_state, unsigned short)+0x0023)
再現手順	Go into test mode try the TGP test.
追加情報

添付ファイル	0000.png (2014-04-18 14:15)